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選購鐳射粒度儀的四個重要問題

釋出時間☁•◕│₪:2022-04-21      點選次數☁•◕│₪:194
   鐳射粒度儀是透過顆粒的衍射或散射光的空間分佈(散射譜)來分析顆粒大小的儀器✘•·╃•,採用Furanhofer衍射及Mie散射理論✘•·╃•,測試過程不受溫度變化·☁、介質黏度✘•·╃•,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響✘•·╃•,只要將待測樣品均勻地展現於鐳射束中✘•·╃•,即可獲得準確的測試結果☁₪╃·。
  選購鐳射粒度儀需要考慮的四個問題☁₪╃·。小編為大家介紹一下關於選購鐳射粒度儀的四個重要問題☁₪╃·。
  第一·☁、鐳射器選擇☁•◕│₪:鐳射粒度儀的重要部件之一✘•·╃•,主要有HE-NE鐳射器和半導體鐳射器兩種✘•·╃•,其中HE-NE鐳射器的各項效能均優於半導體鐳射器✘•·╃•,且成本也遠高於半導體鐳射器✘•·╃•,半導體鐳射器單向性差的問題✘•·╃•,對測試結果的穩定性影響很大☁₪╃·。
  第二·☁、光電探測器☁•◕│₪:國內產品採用的光電探測器的種類大同小異✘•·╃•,一般就是半環式·☁、點陣式等✘•·╃•,半環式的優勢是能夠以較少的通道數達到很高的探測精度☁₪╃·。而且在出現斷環時可以臨時採取並環操作✘•·╃•,對測試結果影響很小☁₪╃·。點陣式屬於比較老的探測器型別✘•·╃•,現在用的比較少☁₪╃·。
  第三·☁、儀器結構問題☁•◕│₪:主要分為整體式和分體式✘•·╃•,整體式就是將分散系統和測試系統整合為一體✘•·╃•,協同操作✘•·╃•,分體式則是分散系統獨立於測試系統✘•·╃•,測試者需要先操作分散系統✘•·╃•,將樣品分散好再將分散好的樣品透過管道匯入測試系統進行測試☁₪╃·。
  這樣的缺點是協同操作性不好✘•·╃•,比較重的顆粒容易在管道中沉澱✘•·╃•,清洗不便且對測試結果有一定影響✘•·╃•,現在整體式結構的儀器是發展方向✘•·╃•,進口產品大都採用整體式結構✘•·╃•,國內的產品也慢慢在向整體式結構發展☁₪╃·。
  第四·☁、光路設計問題☁•◕│₪:光路設計是鐳射粒度儀研製的基礎✘•·╃•,進口產品的優勢不但在製造工藝上✘•·╃•,光路的設計水平也是技術先進的標誌✘•·╃•,國內的廠家現在大都採用簡單的平行光路設計✘•·╃•,我們公司推出的鐳射粒度儀產品中採用了傅立葉變換光路☁₪╃·。這種光路是一種比較先進的光路✘•·╃•,能夠獲得更寬的散射角✘•·╃•,在提高測試精度方面有一定的優勢☁₪╃·。

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