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鐳射粒度儀的發展前景

釋出時間☁◕:2022-06-20      點選次數☁◕:103
   鐳射粒度儀是一種應用Z為廣泛的粒度檢測裝置▩◕☁│╃。它的測試原理是依據光的散射現象☁◕:光在行進過程中遇到顆粒時₪▩,將有一部分偏離原來的傳播方向₪▩,這種現象稱為光的散射或者衍射▩◕☁│╃。顆粒尺寸越小₪▩,散射角越大;顆粒尺寸越大₪▩,散射角越小▩◕☁│╃。鐳射粒度儀就是根據光的散射現象測量顆粒大小的▩◕☁│╃。
  鐳射粒度儀的發展前景☁◕:
  近年來₪▩,國外的鐳射線上粒度測量技術發展迅速₪▩,因為其具有連續自動取樣╃•、抗干擾能力強╃•、實時顯示報告╃•、資料有代表性等特點₪▩,而國內在這方面的開發和應用則剛剛起步₪▩,差距較大▩◕☁│╃。可以預計₪▩,線上粒度測量與監測的發展將會給相關粉體工業帶來巨大的效益和變革₪▩,鐳射線上測試技術將成為顆粒測試領域競爭的焦點並將會被逐步推廣和應用▩◕☁│╃。在這個領域₪▩,研製和開發更先進的取樣和分散裝置(尤其是對超微顆粒)₪▩,提高線上鐳射粒度儀的測試精度₪▩,使線上與離線的測量結果相吻合及工業線上安裝和應用的安全性和穩定性等問題都值得進一步探討和解決▩◕☁│╃。
  目前鐳射法測量出來的是等效散射光強球徑₪▩,而人們在用嚴格的電磁波理論求解橢圓形等非球形顆粒的光散射理論問題上做了許多工作₪▩,也對其應用進行了研究▩◕☁│╃。
  另外₪▩,由光能分佈反演計算出顆粒粒度分佈的可靠準確演算法₪▩,尤其是對多峰和窄分佈顆粒樣品的反演₪▩,也是國內外關注的熱點▩◕☁│╃。Mie理論的測量極限使得鐳射粒度儀在奈米顆粒的測量上有較大的侷限性₪▩,國外在用動態光散射粒度儀來測量奈米顆粒方面做了很大的努力並已有產品面世₪▩,而國內正在研發這一技術▩◕☁│╃。

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